|
| Ocena zgodności układów sterowania i automatyki maszyn z wymaganiami dyrektyw LVD, EMC i ATEX Zapraszamy do udziału w seminarium i ćwiczeń z dyrektyw 2006/95/WE (LVD), 2004/108/WE (EMC), 94/9/WE (ATEX 100A) i 1999/92/WE (ATEX 137), które odbędzie się 19-20 maja 2008r. w Katowicach. |
| | Oddanie do użytkowania maszyn i urządzeń wymaga często dostosowania ich części elektrycznych do minimalnych wymagań dyrektyw: niskonapięciowej (LVD) i kompatybilności elektromagnetycznej (EMC). Szkolenie to pozwala na zdobycie wiedzy z zakresu oceny zgodności elektrycznych układów sterowania i automatyki maszyn.
Często problemem dla automatyków jest również określenie czy maszyna będzie pracowała w strefie zagrożonej wybuchem. Szkolenie daje odpowiedź na pytania:
- jakie kryteria pozwalają zaklasyfikować urządzenia do poszczególnych kategorii wybuchowości,
- jak klasyfikować miejsca zagrożone wybuchem.
Celem szkolenia jest:
* Przygotowanie uczestników do samodzielnego, efektywnego i zgodnego z normami przeprowadzania oceny zgodności i nadawania oznakowania CE dla części elektrycznej maszyn i urządzeń,
* Wyjaśnienie niejasności wynikających z dyrektyw UE i polskich rozporządzeń wprowadzających dyrektywy do prawodawstwa polskiego,
* Przekazanie wskazówek dotyczących sporządzania dokumentacji technicznej,
* Ukazanie obowiązującego i przyszłego stanu prawnego dotyczącego kompatybilności elektromagnetycznej,
* Udzielenie odpowiedzi na nurtujące uczestników szkolenia pytania w odniesieniu do wyrobów produkowanych przez firmę. | | Termin i miejsce: 19-20 maja 2008 r. Katowice
Szczegółowe informacje, program, rejestracja >>>
Zapraszamy do uczestnictwa! Dla osób, które zapiszą się na nasze seminaria przygotowaliśmy rabaty.
Kontakt w sprawie seminariów:
tel./fax 077 442 68 90,
e-mail: luc@luc.pl
Istnieje również możliwość przeprowadzenia zajęć bezpośrednio w firmie oraz opracowania szkoleń na indywidualne zlecenie.
Zapraszamy do współpracy.
Zespół LUC - CE CONSULTING
| | Dalsze informacje... | 2008-04-15 Cert Partner Mariusz Łukaszyński |
|
|
|
|
|
|
|